手機(jī)跌落測試報(bào)辦理

跌落測試是為產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面于不同的高度上跌落于地面時(shí)的實(shí)際情況,從而了解產(chǎn)品受損情況及產(chǎn)品包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度。從而根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計(jì)。接下來我們一起來了解一下怎樣對(duì)手機(jī)進(jìn)行跌落測試!

怎樣對(duì)手機(jī)進(jìn)行跌落測試

跌落測試

跌落測試的目的

跌落測試就是嘗試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

對(duì)于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

怎樣對(duì)手機(jī)進(jìn)行跌落測試

自由跌落測試是模擬用戶在使用過程中從手中、口袋中、或者桌面上跌落到地上過程的測試,簡單地說,就是測試產(chǎn)品的抗摔能力,抗摔能力越好表明產(chǎn)品在摔落到地上后損壞的可能性越小。

對(duì)于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等,IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

測試結(jié)果和結(jié)論

針對(duì)錘子手機(jī)的測試,我們參考了國內(nèi)大屏手機(jī)的入門跌落測試標(biāo)準(zhǔn),即高度0.7米,6個(gè)面,兩輪。

測試結(jié)果 整個(gè)測試過程中,出現(xiàn)SIM卡彈出一次,重新拔插后正常,前后面板并沒有出現(xiàn)碎裂,前左下邊框出現(xiàn)輕微磨損,后左側(cè)音量鍵上方向出現(xiàn)無法回彈故障,其他功能均正常。按照各方標(biāo)準(zhǔn)要求,這臺(tái)量產(chǎn)機(jī)雖然沒有出現(xiàn)面板碎裂,但出現(xiàn)了按鍵故障,仍然屬于未通過跌落測試。

手機(jī)的跌落測試,不僅僅是常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的問題,他是對(duì)質(zhì)量的一個(gè)說明,在現(xiàn)在的市場下,也是某類品牌商想以次為突破點(diǎn),進(jìn)行品牌宣傳。跌落測試只是產(chǎn)品的部分測試,也只是局部的說明產(chǎn)品在這一方面的優(yōu)勢,不過檢測意義比較大的。

► 鑒于服務(wù)項(xiàng)目可能差異 為避免誤解 請(qǐng)聯(lián)系我們 以獲取最新的報(bào)價(jià)信息

我們的優(yōu)勢:

  • 快速回應(yīng),便捷溝通;
  • 豐富經(jīng)驗(yàn),靈活處理;
  • 全面完善的管理系統(tǒng);
  • 全球網(wǎng)點(diǎn),高性價(jià)比。

資質(zhì)證書(部分):

HQTS


日本中文字幕大片人成_东京一本到熟无码免费视频_国产精品视频一区_9久热这里有国产精品