CQC要求插頭插座將自2013年12月1日起實施新版3C認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)條款 | GB 2099.2新舊標(biāo)準(zhǔn)差異 | 補(bǔ)充試驗（檢查）項目 | |
GB 2099.2-1997 | GB 2099.2-2012 | ||
8 標(biāo)志 | 采用GB 2099.1-1996第8章 | 采用GB 2099.1-2008第8章。 增加了中性極、接地極、帶電極的符號。 修改了保護(hù)接地符號標(biāo)志、型號。 | 做補(bǔ)充檢查 |
9 尺寸檢查 | 采用GB 2099.1-1996第9章及GB1002-1996，沒有不接觸規(guī)的測試 | GB1002-2008增加了插座帶電極插套到插合面距離的要求，增加了插座的部分通規(guī)，增加了兩極雙用插座圓插部分，增加了不接觸規(guī)的測試。 | 做補(bǔ)充試驗 |
10 防觸電保護(hù) | 采用GB 2099.1-1996第10章 | 采用GB 2099.1-2008第10章，增加了#9探針的檢測等內(nèi)容，且GB1002-2008尺寸要求變化，對防觸電保護(hù)產(chǎn)生影響。 | 做補(bǔ)充試驗 |
13 固定式插座的結(jié)構(gòu) | 采用GB 2099.1-1996第13章 | 采用GB 2099.1-2008第13章，由于GB1002-2008尺寸要求變化，從而影響插座結(jié)構(gòu)。 | 做補(bǔ)充試驗 |
19 溫升 | 采用GB 2099.1-1996第19章 | 采用GB 2099.1-2008第19章，GB1002-2008尺寸要求變化，有可能影響插座結(jié)構(gòu)，從而影響溫升。 | 若確認(rèn)插套結(jié)構(gòu)變化，則做補(bǔ)充試驗 |
20 分?jǐn)嗳萘?/p> | 采用GB 2099.1-1996第20章 | 采用GB 2099.1-2008第20章，GB1002-2008尺寸要求變化，有可能影響插座結(jié)構(gòu)，從而影響分?jǐn)嗄芰Α?/p> | 若確認(rèn)插套結(jié)構(gòu)變化，則做補(bǔ)充試驗 |
21 正常操作 | 采用GB 2099.1-1996第21章 | 采用GB 2099.1-2008第21章，GB1002-2008尺寸要求變化，有可能影響插座結(jié)構(gòu)，從而影響正常操作。 | 若確認(rèn)插套結(jié)構(gòu)變化，則做補(bǔ)充試驗 |
27 爬電距離、電氣間隙和通過密封膠的距離 | 采用GB 2099.1-1996第27章 | 采用GB 2099.1-2008第27章，GB1002-2008尺寸要求變化，有可能影響插座結(jié)構(gòu)，從而影響爬電距離和電氣間隙。 | 若確認(rèn)插套結(jié)構(gòu)變化，則做補(bǔ)充試驗 |
28 絕緣材料的耐非正常熱、耐燃和耐電痕化 | 采用GB 2099.1-1996第28章 | GB2009.2-2012相對與GB2099.2-1997在本章節(jié)增加了“就本試驗而言，器具插座視為固定式插座”，移動式插座對將載流部件保持在位的絕緣材料需進(jìn)行750℃灼熱絲試驗，固定式插座對將載流部件保持在位的絕緣材料需進(jìn)行850℃灼熱絲試驗。 | 若先前判為移動式插座，則做補(bǔ)充試驗 |
熱線： 400-888-1563
郵箱：inquirychina@hqts.com
